Cadence 将蒙特卡洛仿真中的某一个点创建成一个静态的工艺角 – Analog

之前的一篇文章中提到，在蒙特卡洛仿真中可以通过设置不考虑某些器件的失调的方式来分析一个电路中的某些器件对电路失调特性的影响。此外，Cadence 的蒙特卡洛仿真中还提供一个功能：将一次蒙特卡洛仿真中的一个具体的点创建成一个静态的 Corner，这个 Corner 会记录这一次蒙特卡洛仿真的信息。有了这一个静态的 Corner 后，我们就可在这个静态的 Corner 下运行 DC、AC、PSS以及 HB 等多种仿真分析，来全面分析一个电路在当前失调情况下的各项性能指标并寻找改进方法。

这次同样使用之前的一篇文章中的电路来介绍这种方法。之前的一篇文章中提到的是一个运放的失调电压仿真电路，并给出了下图这样的一个失调电压的蒙特卡洛仿真结果：

可以看出，该蒙卡的仿真结果中最右边存在一个点，在这一个点下电路的某些性能较差。现在假设我们期望将这个点单独拿出来，在这个点的失配情况下进行其他的更复杂仿真，来自己分析这个点所在的情况下电路的工作状态，这时我们就可以用到 Cadence 中的 「Create Statistical Corner」这个选项了。

在使用该点创建静态的 Corner 之前，首先我们要做的就是要知道该点是这次蒙特卡洛仿真中的第几个点。知道这是第几个点的方式很简单，只需要用鼠标悬停在这个点的上方即可（或者点一下这个点也可以），如下图：

此时即可显示出该点为本次蒙特卡洛仿真中的第几个点，本例中为第 117 个点。

接下来转到 maestro，在 maestro 中选择如下图中的选项，并将该处选项改为「Detail」，即可总览本次蒙卡仿真中每一个点的情况。

此时下方就会列出本次蒙特卡洛仿真涉及到的全部点的信息。接下来要做的是在这些点中找到我们感兴趣的那个仿真点（这里是第 117 个点），并在仿真结果上面右键，即可看到「Create Statistical Corner」选项，如下图：

单击这个选项，即可在设置工艺角的地方看到一个新增加的工艺角，如下图：

随后，取消勾选「Nominal」工艺角，并将 maestro 上面的仿真选项设置为普通的仿真，且无需更改任何仿真库选项，即可愉快的进行各种各样花式的仿真来分析电路了，如下图。

例如，在下图这里我设置了一个 DC 仿真和一个 AC 仿真，可以看出仿真能够正常进行，并且能够得出一个正确的，确实是属于该蒙特卡洛工艺角下的仿真结果。

根据这个将蒙特卡洛仿真中的某一个点创建为静态 Corner 的操作过程来看，本人猜想 Cadence 中的蒙特卡洛仿真产生随机失配的方式很可能使用的是生成伪随机数的方法。因此只要给定一个种子（seed），给定一个仿真点（如